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RORobert Bosch Semiconductor Manufacturing Dresden GmbH

Senior Ingenieur Elektrische Fehleranalyse(m/w/x)

Dresden
Full-timeOn-siteSenior

Fehlerlokalisierung an Halbleiter-Chips mit automatisiertem Testsystem und laborgerechtem Setup. Mehrjährige Erfahrung in analoger Schaltungstechnik und IC-Design erforderlich. Strukturierte und selbständige Arbeitsweise mit Hands-on-Mentalität für Laborarbeit.

Requirements

  • Erfolgreich abgeschlossenes Studium der Elektrotechnik oder verwandter Studiengänge
  • Mehrjährige Erfahrung in analoger Schaltungstechnik, IC-Design/-Verifikation, Fehlerlokalisierungstechniken, messtechnischem Laborequipment und automatisierten Halbleiter-Testsystemen
  • Kooperationsfähigkeit, Teamfähigkeit, Kommunikationsstärke, Belastbarkeit, Flexibilität
  • Verantwortungsbewusstsein, strukturierte und selbständige Arbeitsweise, Lösungs- und Kundenorientierung, Hands-on-Mentalität für Laborarbeit
  • Gute Deutsch- und Englischkenntnisse

Tasks

  • Komplexe Analysen zur Fehlerlokalisierung an Halbleiter-Chips durchführen
  • Laborgerechtes Setup zur elektrischen Ansteuerung erstellen
  • Bauteilspezifisches Setup zur Ausfallverifikation erstellen
  • Elektrisches Ausfallverhalten mit automatisiertem Testsystem nachstellen
  • Testbedingungen an Analyse-Randbedingungen anpassen
  • Optische Lokalisierungsmethoden zur Eingrenzung von Fehlerstellen nutzen
  • Messergebnisse in betroffene Schaltungsbereiche übertragen
  • Fehlerhypothesen ableiten
  • Fehlerhypothesen durch weitere Analyseschritte verifizieren
  • Qualitätsgerechte Bearbeitung Ihrer Analysen verantworten
  • Fristgemäße Bearbeitung Ihrer Analysen verantworten
  • Fachlicher Ansprechpartner für Auftraggeber sein
  • Auftraggeber bzgl. analytischer Möglichkeiten beraten
  • Analyseergebnisse in interdisziplinären Teams vertreten

Work Experience

  • approx. 4 - 6 years

Education

  • Bachelor's degree

Languages

  • GermanBusiness Fluent
  • EnglishBusiness Fluent

Tools & Technologies

  • IC-Design
  • IC-Verifikation
  • Photon-emissionsmikroskopie
  • thermische Lokalisierung
  • Laser-Voltage-Verfahren
  • messtechnisches Laborequipment
  • automatisierte Halbleiter-Testsysteme
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